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【商品説明】

商品詳細

■商品名■
半導体材料・デバイスの評価 第3版: パラメータ測定と解析評価の実際

■出版社■
シーエムシー出版

■著者■
ディーター・K. シュロゥダー

■発行年■
2012/05/01

■ISBN10■
4781304796

■ISBN13■
9784781304793

■コンディションランク■
良い

コンディションランク説明
ほぼ新品:未使用に近い状態の商品
非常に良い:傷や汚れが少なくきれいな状態の商品
良い:多少の傷や汚れがあるが、概ね良好な状態の商品(中古品として並の状態の商品)
可:傷や汚れが目立つものの、使用には問題ない状態の商品

■コンディション詳細■
書き込みありません。古本のため多少の使用感やスレ・キズ・傷みなどあることもございますが全体的に概ね良好な状態です。水濡れ防止梱包の上、迅速丁寧に発送させていただきます。


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  • 半導体デバイス故障/良品解析・信頼性試験 | TAQS

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